基于OTDR的光纤衰减均匀性自动测量

由OTDR测量所显示的光纤后向散射曲线上，任意500m光纤长度上测量的衰减与其全长上测量的归化至每500m的衰减之差最大值即为该光纤的衰减均匀性。

       根据有关标准的上述定义，在OTDR上可进行人工测量，但是效率低，而且测量数据非常有限，事实上得到的结果不能很好反映这种均匀性。国外已有采用计算机进行实时控制的OTDR光纤衰减均匀性测试系统，如PK公司的8000型测试系统。这种系统采用固定测量段长进行连续扫描的所谓“移动窗口（sliding window）”技术（如测量段长根据要求设为500m等），比人工测量具有多得多的数据，从而结果更加客观。但这种OTDR系统价格昂贵（当然还兼备其它功能），更适合实验室用于研究。