单模光纤MFD测试条件的探讨

       追溯至一、二十年前颁布的ITU-T G.652建议书和IEC 60793-2光纤产品规范中，对非色散位移单模光纤（即通常称为G.652光纤或B1.1和B1.3光纤）的光纤截止波长λc的规定中曾有这样的说明：由于光纤在成缆后会使原来的λc变短，因而光纤厂商可将光纤的λc设计成大于工作波长，最长可略大于1 350 nm；因为即使光纤的λc大于工作波长，只要成缆后的光缆截止波长λcc小于工作波长，就能保证光纤的单模传输。但因光缆结构的差异，成缆光纤相对于未成缆光纤的λc位移量并不确定，所以无法建立成缆前后光纤的λc的对应关系。在此之后，特别是近年来，有不少G.652单模光纤产品的λc被设计为大于工作波长。虽然采用这样的光纤制造的光缆，也许有利于改善光缆的宏弯损耗特性，但也给光纤的模场直径（MFD）测试带来了一定的困扰。λc被设计为大于工作波长的G.652单模光纤在1 310 nm测试波长（与典型工作波长等同）下将呈现出非单模传输状态。对此，如何合理考虑和正确建立MFD测试条件，目前的国内和国际标准的测试方法中并未有明确的阐述和规定，而这对于MFD的准确测试却十分重要。

查看更多>>