技术交流

采用后向散射技术的单模光纤色散均匀性测量

2010/5/18

众所周知，色散是单模光纤的一个重要特征参数。在光纤通信采用波分复用（WDM）特别是密集波分复用（DWDM）技术进程中，基于非线性光学理论，为了改善和消除四波混频非线性效应，对专门用于DWDM传输系统所设计的新型单模光纤［如非零色散位移光纤（NZDSF）即G.655光纤以及此后的宽带NZDSF即G.656光纤］色散特性有特殊要求。国际上IEC和ITU-T均为此提出了相关规范建议，如前者非零色散区色散系数规定在0.1～6ps/nm·km之间，随后修改确定为1～10ps/nm·km；后者非零色散区色散系数规定在2～14ps/nm·km之间。非零而小量的色散能有效地消除产生非线性的相位匹配条件，从而抑制四波混频。

一般我们进行的色散测量所得到的是被测量光纤段的平均色散，在预计评估通信链路在信号接收端由于色散导致信号脉冲失真从而造成误码时，这样的量值已给出了所需的足够信息。而现在的问题是基于四波混频非线性产生的机制，沿着光信号传输路径逐点的色散特性是否满足上述非零色散条件至关重要。这就提出了色散的均匀性问题，而对其进行有效的测量显然是一个十分有意义的课题。以下对一种基于后向散射（backscattering）技术的单模光纤色散均匀性的测量方法作一简要介绍。